SRM1728錫合金(美國nist標準品)是由錫、銅和銀配制而成的錫焊料合金。 SRM 1728 旨在用于評估化學和儀器分析方法以及校準整體元素組成的分析。 除了需要圓盤狀試樣的方法外，SRM 1728 還可與測試方法一起使用，在這種方法中，材料碎片被消化以制備用于測量的溶液。 

SRM 1728 的每個單元由一個直徑約 39 毫米、厚約 15 毫米的圓盤組成，經(jīng)過認證，距離其原始測試表面的深度為 10 毫米。

標準物質(zhì) NIST SRM 1728 - 錫合金 的每個磁盤都經(jīng)過認證，距離原始交付的認證表面 10 毫米的深度，該表面與標有 SRM 編號和 NIST 標志的一面相對。磁盤的最后 5 毫米未經(jīng)認證。 NIST 使用機器切割技術(shù)在每個磁盤上創(chuàng)建了表面。如果需要在磁盤上創(chuàng)建新的表面光潔度，建議使用飛切或車床切割等技術(shù)。不推薦使用潤滑劑和冷卻劑。不建議進行磨料研磨，因為磨料顆粒可能會嵌入合金中。此外，壓力和局部加熱可能會造成一種或多種組成元素的涂抹，從而改變表面的成分。

將SRM1728錫合金(美國nist標準品)存放在陰涼干燥的地方，最好存放在其原始容器中。材料受表面腐蝕，有一定程度的因再結(jié)晶而發(fā)生顯微組織變化的可能性。但是，如果采取足夠的預防措施來保護它免受污染、惡劣溫度和濕氣的影響，它將保持穩(wěn)定。

要將分析結(jié)果與 SRM 1728 的規(guī)定值和相關(guān)不確定性估計值相關(guān)聯(lián)，建議在破壞性測試方法中使用至少 0.25 g 的碎屑材料。根據(jù)需要從磁盤中取出芯片；不要大量切碎以備后用。對于 X 射線熒光光譜法，常見的光譜儀設計包含 ≥ 2 cm2 的測量區(qū)域，這對于這種材料來說是足夠的。對于光發(fā)射光譜儀，例如輝光放電和電弧火花設計，建議使用多次測量的平均值進行單次測定。用戶經(jīng)驗表明，需要進行 4 次或更多“燒傷"，每次 ≥ 3 毫米直徑。